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可度量化拓扑


一个拓扑,在某种意义上“潜在地”是一个度量拓扑,即可以定义一个合适的度量来诱导它。“潜在地”在这里的意思是,尽管度量存在,但它可能是未知的。

事实上,拓扑学上存在充分的准则来保证这种度量的存在,即使它没有被明确给出。这种存在性定理的一个例子归功于乌雷松(Urysohn)(Kelley 1955,第 125 页),他证明了具有可数基的正则T1 空间是可度量化的。

相反,可度量化空间总是 T_1 和正则的,但基的条件必须放宽,因为一般来说,拓扑学只具有由可数多个局部有限开集族形成的基。

对于 T2 空间,已知特殊的度量化准则。紧 T_2 空间是可度量化的 当且仅当 所有 (x,x) 的元素集合 X×X 是一个 零集(Willard 1970,第 163 页)。紧度量空间在豪斯多夫空间中的连续图像是可度量化的(Willard 1970,第 166 页)。这尤其意味着可以在 T2 空间中的每条路径上定义距离。


另请参阅

希尔伯特立方体度量拓扑T2 空间乌雷松度量化定理

此条目由 Margherita Barile 贡献

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参考文献

Cullen, H. F. "Metrizable Spaces and Uniformizable Spaces." Ch. 4 in Introduction to General Topology. Boston, MA: Heath, pp. 141-209, 1968.Kelley, J. L. General Topology. New York: Van Nostrand, 1955.Willard, S. General Topology. Reading, MA: Addison-Wesley, 1970.

在 Wolfram|Alpha 上引用

可度量化拓扑

请引用为

Barile, Margherita. "可度量化拓扑。" 来自 MathWorld-- Wolfram Web 资源,由 Eric W. Weisstein 创建。 https://mathworld.net.cn/MetrizableTopology.html

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